XRF熒光光譜儀元素標(biāo)準(zhǔn)膜

簡要描述：奧富森提供的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進(jìn)行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)，元素純度可達(dá)99.9%以上；同時(shí)綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標(biāo)定薄膜標(biāo)樣的負(fù)載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標(biāo)樣。

產(chǎn)品型號： B36

所屬分類：實(shí)驗(yàn)室耗材

更新時(shí)間：2024-11-02

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奧富森提供的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進(jìn)行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)，元素純度可達(dá)99.9%以上；同時(shí)綜合ICP和XRF等檢測技術(shù)，可精確標(biāo)定薄膜標(biāo)樣的負(fù)載量。

《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標(biāo)樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品分SL(0.5-2μg/cm²)、VL(3-5μg/cm²)、L(15-25μg/cm²)、R(40-60μg/cm²)、H(80-120μg/cm²)五個(gè)負(fù)載量系列，其他負(fù)載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實(shí)際需求定制。

可供應(yīng)的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素如下（可在表格內(nèi)打√選擇樣品）：

可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設(shè)備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結(jié)果的影響；采用*標(biāo)準(zhǔn)樣品研究所提供的湖南重金屬污染標(biāo)準(zhǔn)土壤樣品，參考NIST 2783標(biāo)樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗(yàn)證以及XRF實(shí)驗(yàn)室日常質(zhì)控工作。

XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品的安裝形式：

1. 安裝環(huán)尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）

      *36號尺寸。

方形：

      50x50mm方形尺寸，內(nèi)置?32mm的圓環(huán)，代碼50。

1. 支撐膜材料

• M6.3型材料。

鍍膜方式：