奧富森提供的XRF薄膜標(biāo)準(zhǔn)樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進(jìn)行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩(wěn)定等優(yōu)點,元素純度可達(dá)99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù),可精確標(biāo)定薄膜標(biāo)樣的負(fù)載量。 《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機(jī)元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標(biāo)樣。